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CSM系列超細(xì)粒度分析儀介紹

一. 簡(jiǎn)介CSM超細(xì)顆粒粒度分析儀是一種基于消光法原理的新型顆粒粒度分析儀器，用于測(cè)量超細(xì)顆粒的粒度分布。本儀器由主機(jī)，計(jì)算機(jī)和打印機(jī)，儀器操作軟件等組成。儀器具有操作簡(jiǎn)單，測(cè)量時(shí)間短，操作軟件良好的人機(jī)對(duì)話(huà)界面等優(yōu)點(diǎn)?？蓮V泛用于電子，光學(xué)，化工，醫(yī)藥等行業(yè)測(cè)量超細(xì)固體顆粒、懸乳劑、懸浮液等的顆粒和液滴的平均尺寸和尺寸分布。以表格形式和直方圖形式給出被測(cè)顆粒的粒度分布和累積分布的測(cè)量結(jié)果，以及 D 32， Dv50等多種平均粒徑和比表面積。 主機(jī)內(nèi)包括光源，光學(xué)系統(tǒng)，測(cè)量樣品池，光電信號(hào)轉(zhuǎn)換及放大系統(tǒng)，A/D數(shù)據(jù)采集卡等。主機(jī)輸出信號(hào)通過(guò) USB電纜與計(jì)算機(jī)的 USB口相連接，計(jì)算機(jī)對(duì)主機(jī)測(cè)量進(jìn)行控制和數(shù)據(jù)處理，并打印輸出結(jié)果。

CSM系列超細(xì)粒度分析儀主要技術(shù)特點(diǎn)：

大功率白色光源

美國(guó)海洋光學(xué)光譜接收器

集多年研究之成果，消光理論的應(yīng)用

反演算法，保證顆粒測(cè)量的準(zhǔn)確

5.USB接口，儀器與計(jì)算機(jī)分離，可配任意具有 USB接口之計(jì)算機(jī)；臺(tái)式、筆記本、移動(dòng) PC均可；

微量固定樣品池，超高感應(yīng)靈敏度，僅需少量樣品

軟件個(gè)性化，提供測(cè)量向?qū)У缺姸喙δ?，方便用?hù)操作；

8.測(cè)量結(jié)果輸出數(shù)據(jù)豐富，保存在數(shù)據(jù)庫(kù)中，能用任意參數(shù)，如操作者姓名，樣品名，日期，時(shí)間等進(jìn)行調(diào)用分析，與其他軟件實(shí)現(xiàn)數(shù)據(jù)共享；

9.儀器造型美觀，體積小重量輕；

10.測(cè)量精度高，重復(fù)性好，測(cè)量時(shí)間短；

11.軟件提供眾多物質(zhì)折射率供用戶(hù)選擇，滿(mǎn)足用戶(hù)查找被測(cè)顆粒折射率要求；

12.考慮到測(cè)試結(jié)果的保密要求，只有授權(quán)操作者才能進(jìn)入相應(yīng) 數(shù)據(jù)庫(kù)讀取數(shù)據(jù)和處理；

二. 主要技術(shù)指標(biāo) .

?光源功率：20瓦 12伏鹵素?zé)簦?/span>

?粒徑測(cè)量范圍：0.05μm－10.0μm

?重復(fù)測(cè)量誤差：< 2％；

?測(cè)量誤差： <3< span="">％ (用國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)顆粒檢驗(yàn))；

?數(shù)據(jù)輸出：體積、數(shù)量微分分布和累積分布表和圖表；多種統(tǒng)計(jì)平均直徑；操作者姓名、單位、樣品名；選用折射率，測(cè)量時(shí)間等相關(guān)信息。

?通訊接口：USB接口。

?樣品池：固定樣品池

?測(cè)量分析時(shí)間：正常條件下小于 1分鐘（從開(kāi)始測(cè)量到顯示分析結(jié)果）。

?工作環(huán)境溫度：5－30 ℃；

?電源：180－240V，50 Hz；

?外形尺寸：320X280X120 mm3；

?重量：約 3.5 公斤

三. 工作條件

室內(nèi)溫度：15℃-35℃

相對(duì)溫度：不大于85%（無(wú)冷凝）

建議用交流穩(wěn)壓電源1KV，無(wú)強(qiáng)磁場(chǎng)干擾。

4.由于在微量級(jí)的范圍內(nèi)的測(cè)量，儀器應(yīng)放在堅(jiān)固可靠、無(wú)振動(dòng)的工作臺(tái)上，并且在少塵條件下進(jìn)行測(cè)量。

儀器不應(yīng)放在太陽(yáng)直射、風(fēng)大或溫度變化大的場(chǎng)所。

設(shè)備必須接地，保證安全和高精度。

室內(nèi)應(yīng)清潔、防塵、無(wú)腐蝕性氣體。

四. 工作原理消光法(Extinction)是光散射顆粒測(cè)量技術(shù)中的一種，又稱(chēng)濁度法(Turbidimetry)。消光法的基本原理是，當(dāng)光束穿過(guò)一含有顆粒的介質(zhì)時(shí)，由于受到顆粒的散射和吸收，使得穿過(guò)介質(zhì)后的透射光強(qiáng)度受到衰減，其衰減程度與顆粒的大小和數(shù)量(濃度)相關(guān)，這就為顆粒測(cè)量提供了一個(gè)尺度。與散射光能顆粒測(cè)量方法顯著不同的是，消光法測(cè)量時(shí)所接收的不是顆粒的散射光，而是非散射光(透射光)，所以光強(qiáng)較強(qiáng)。光源大都采用白光而不是單色激光，此外，除顆粒粒徑外，消光法還能同時(shí)測(cè)得顆粒的濃度，與其它光散射方法相比，這是它的一個(gè)突出特點(diǎn)。 消光法的原理簡(jiǎn)單，測(cè)量方便，對(duì)儀器設(shè)備的要求較低，測(cè)量范圍相對(duì)較寬，下限為數(shù)十個(gè)納米，上限約 10 μm左右，測(cè)量結(jié)果準(zhǔn)確，重復(fù)性好，測(cè)量速度快。因此，該方法不僅在膠體化學(xué)，高分子化學(xué)以及分析化學(xué)等實(shí)驗(yàn)室分析中得到了廣泛應(yīng)用，還在在線(xiàn)測(cè)量中得到越來(lái)越多的應(yīng)用，如對(duì)高分子聚合過(guò)程的測(cè)量和監(jiān)控，內(nèi)燃機(jī)排氣中固體微粒粒徑的測(cè)量，大型火力發(fā)電廠和原子能電廠中蒸汽濕度和水滴直徑的測(cè)量，煙塵排放濃度的監(jiān)控等。

消光法的測(cè)量原理如圖 1所示。如果一束直徑遠(yuǎn)大于被測(cè)顆粒粒徑、強(qiáng)度為I0、波長(zhǎng)為 λ的平行單色光入射到一含有被測(cè)顆粒群的介質(zhì)時(shí)，由于顆粒對(duì)光的散射和吸收作用，光的強(qiáng)度將受到衰減

圖2.儀器實(shí)樣